薄膜材料制造激光尘埃粒子计数器使用背景
薄膜材料（如电子级薄膜、光学薄膜、包装用阻隔薄膜等）的制造过程对生产环境洁净度有着极高要求，微小的尘埃粒子（粒径常以微米甚至亚微米级计）一旦附着在薄膜表面或混入生产环节，将直接影响产品性能与质量 —— 例如，电子级薄膜（用于芯片封装、柔性显示屏）若沾染尘埃，会导致电路短路或显示像素异常；光学薄膜（用于镜头、光伏面板）若存在粒子杂质，会降低透光率与光学均匀性；包装用阻隔薄膜若混入尘埃，可能破坏阻隔层完整性，影响食品、药品的保鲜与安全储存。而薄膜制造的关键环节（如挤出成型、涂布、真空蒸镀、分切）多在封闭车间进行，空气流通受限，设备磨损产生的颗粒、人员活动携带的粉尘、原材料挥发的微小杂质等，都可能成为尘埃粒子的来源，给产品质量带来潜在风险。
在传统薄膜材料制造的洁净度监测中，多依赖人工采样后实验室分析或固定点位的简易尘埃监测设备。人工采样存在周期长、时效性差的问题，通常需数小时甚至数天才能得出结果，若发现洁净度不达标，已造成大量不合格产品，增加企业生产成本。
硬件设备
OSEN-2510L型0.1um在线激光尘埃粒子计数器
OSEN-2510L型0.1um激光尘埃粒子计数器，是我司自主研发的全新一代产品。计数器以光散射原理为理论，通过光电传感技术实现对尘埃粒子粒径检测及粒子数量的计数。相比于普通款的大流量粒子计数器，此款仪器检测粒径更小，能最小检测0.1um的粒子数，适用于十级及一级的超净环境;适用于电子、半导体、液晶面板、微纳加工、航空航天、精密加工、新型材料、科研院所等超净场景。
技术参数
粒径范围：0.1um-10.0um
标准粒径通道：0.1um,0.2um,03.0.5um
0.1um粒径档计数效率：50±20%
浓度示值误差：0.5μms±20%FS
最大采样浓度：500000PC/CFM，浓度超限保护，并提示仪器自净
重复误差：5%F.S
自净时间：s10min
采样流量：28.3L±5%，实时监控，超限报警
采样周期：1-9999s可设置
连续工作：支持24h不间断稳定工作
激光光源：长寿命日本进口半导体激光二极管
真空：内部真空源，寿命{>}20000小时
显示：4.3英寸触摸屏
电源：DC24V/1A
通讯方式：RS485 @ModbusRTU/ 以太网 @ModbusTCP/无线通讯@LoRa
校准规范：JF1190-2008,GB/T 25915.1-2021
外壳：304 不锈钢
尺寸：宽19.2*深21.2°高15.2cm
重量：4kg
工作环境温度：0-40℃温度10%-90%无凝结
存储环境：温度-10-50℃温度0-90%无凝结